Hi-phen田間便攜式植物表型分析系統測量植株高度可達3m，可整合RGB、多光譜、激光雷達等各種傳感器，將田間表型研究成本拉到了一個新維度。該便攜式多光譜表型成像系統重量輕、功能強大，可集成多種表型傳感器，可快捷、便攜進行植物田間表型研究。